Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2015 31st /

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Weitere Titel:
2015 31st Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium
2015 31st Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM)
Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium
Körperschaft:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
Piscataway, NJ : IEEE, 2015.
Umfang:
1 online resource (342 pages) : illustrations
Bibliografie:
Includes bibliographical references.
ISBN:
9781479986002
1479986003
Schlagworte:
Semiconductors > Congresses.
Bezugswerke:
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