2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium

Gespeichert in:
1. Verfasser:
IEEE Staff (MitwirkendeR)
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
[Place of publication not identified] IEEE 2012
Umfang:
1 online resource
Anmerkungen:
Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Anmerkungen:
English
ISBN:
9781467310741
1467310743
Schlagworte:
Integrated circuits > Design and construction > Congresses.
Bezugswerke:
Links: