2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structure

Gespeichert in:
1. Verfasser:
IEEE Staff (MitwirkendeR)
Körperschaft:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
[Place of publication not identified] IEEE 2012
Umfang:
1 online resource
Anmerkungen:
Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Anmerkungen:
English
ISBN:
9781467310307
1467310301
Schlagworte:
Electronic apparatus and appliances > Testing.
Integrated circuits > Testing.
Bezugswerke:
Links: