2017 Far East NDT New Technology & Application Forum : 22-24 June 2017, Xi'an, China /

Gespeichert in:
Körperschaften:
Far East NDT New Technology & Application Forum Xi'an, China, IEEE Computer Society (sponsoring body.)
Format:
Tagungsbericht Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
Piscataway, New Jersey : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017.
Umfang:
1 online resource (100 pages)
ISBN:
1-5386-1615-7
Schlagworte:
Nondestructive testing > Technological innovations > Congresses.
Bezugswerke:
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