2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

Gespeichert in:
1. Verfasser:
IEEE Staff (MitwirkendeR)
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
[Place of publication not identified] I E E E 2010
Umfang:
1 online resource
Anmerkungen:
Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Anmerkungen:
English
ISBN:
9781424455980
1424455987
Schlagworte:
Integrated circuits > Testing > Congresses.
Bezugswerke:
Links: