2021 43rd Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD) /

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Weitere Titel:
2021 43rd Annual EOS/ESD Symposium
Körperschaft:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
Piscataway, NJ : IEEE, 2021.
Umfang:
1 online resource (246 pages) : illustrations
ISBN:
1-58537-330-3
Schlagworte:
Continuum damage mechanics > Data processing > Congresses.
Bezugswerke:
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