ZuE 2015 : 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design : 21-23 September 2015.

Gespeichert in:
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Deutsch
Veröffentlicht:
Frankfurt am Main, Germany : VDE, 2015.
Umfang:
1 online resource (215 pages)
Schlagworte:
Integrated circuits > Reliability > Congresses.
Integrated circuits > Design and construction > Congresses.
Bezugswerke: