Reliability by Design 9. ITG/GMM/GI-Symposium : 18-20 September 2017, Cottbus, Germany /

Gespeichert in:
Hauptverfasser:
Kraemer, Rolf, Vierhaus, Heinrich Theodor
Körperschaften:
Institute of Electrical and Electronics Engineers, Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" Cottbus, Germany
Weitere Verfasser:
Kraemer, Rolf (HerausgeberIn), Vierhaus, Heinrich Theodor (HerausgeberIn)
Format:
Tagungsbericht Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
Berlin, Germany : VDE Verlag, 2017.
Umfang:
1 online resource (8 pages)
Anmerkungen:
English and German, with some summaries in both languages.
Schlagworte:
Integrated circuits > Reliability > Congresses.
Integrated circuits > Design and construction > Congresses.
Bezugswerke: