Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing, August 9-10, 1993, San Jose, California

Gespeichert in:
1. Verfasser:
Rajsuman, Rochit (MitwirkendeR)
Körperschaften:
IEEE International Workshop on Memory Testing (Corporate Author), IEEE International Workshop on Memory Testing San Jose, Calif., IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (Content Provider)
Format:
Tagungsbericht Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
[Place of publication not identified] IEEE Computer Society Press 1993
Anmerkungen:
Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Anmerkungen:
English
Schlagworte:
Semiconductor storage devices > Testing > Congresses.
Random access memory > Congresses.
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Bezugswerke: