2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006.

Gespeichert in:
Weitere Titel:
Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference
Körperschaften:
International Test Conference Santa Clara, Calif., Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
Format:
Tagungsbericht Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
IEEE
ISBN:
9781509090884
1509090886
Schlagworte:
Integrated circuits > Testing > Congresses.
Electronic digital computers > Circuits > Testing > Congresses.
Telecommunication > Congresses.
Radio frequency > Congresses.
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