2009 International Conference on Test and Measurement

Gespeichert in:
1. Verfasser:
IEEE Staff (MitwirkendeR)
Körperschaft:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
[Place of publication not identified] IEEE 2009
Umfang:
1 online resource (114 pages)
Anmerkungen:
Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Anmerkungen:
English
Bibliografie:
Includes bibliographical references and index.
ISBN:
9781424447008
1424447003
Schlagworte:
Information technology > Congresses.
Bezugswerke:
Links: