2000 5th International Workshop on Statistical Metrology

Gespeichert in:
Körperschaften:
IEEE, Electron Devices Society Staff, IEEE, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. Staff (Content Provider)
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
[Place of publication not identified] I E E E 2000
Umfang:
1 online resource (90 pages) : illustrations
Anmerkungen:
Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Anmerkungen:
English
Schlagworte:
Semiconductors > Characterization > Statistical methods > Congresses.
Semiconductors > Congresses.
Bezugswerke: