Active Probe Atomic Force Microscopy A Practical Guide on Precision Instrumentation

Gespeichert in:
Hauptverfasser:
Xia, Fangzhou, Rangelow, Ivo W, Youcef-Toumi, Kamal
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
Cham Springer International Publishing Imprint: Springer 2024
Ausgabe:
1st ed. 2024
Umfang:
1 Online-Ressource (XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color)
text file PDF
ISBN:
9783031442339
DOI:
10.1007/978-3-031-44233-9
Schlagworte:
Measurement
Measuring instruments
Electronics
Mechatronics
Spectrum analysis
Microtechnology
Microelectromechanical systems
Bezugswerke:
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