Point Defects in Semiconductors I Theoretical Aspects

Gespeichert in:
1. Verfasser:
Lannoo, M.
Format:
Elektronisch E-Book
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg Imprint: Springer 1981
Ausgabe:
1st ed. 1981
Umfang:
1 Online-Ressource (XVII, 265 p)
text file PDF
ISBN:
9783642815744
ISSN:
2197-4179
DOI:
10.1007/978-3-642-81574-4
Schlagworte:
Crystallography
Bezugswerke:
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