Three-dimensional chemical characterization of electronic materials a discussion

Gespeichert in:
Weitere Titel:
Direct determination of interface structure and bonding with the scanning transmission electron microscope
Adressing future analytical requirements of electronic materials
1. Verfasser:
El-Kareh, Badih
Weitere Verfasser:
Dowsett, Mark G. (HerausgeberIn)
Format:
Buch
Sprache:
Englisch
Veröffentlicht:
London Royal Society 1996
Bestände:
  • Außenmagazin: natz.p100(354)
Umfang:
S. 2593 - 2793 : Ill., graph. Darst.
Anmerkungen:
Enth. u.a.: Adressing future analytical requirements of electronic materials / B. El-Kareh. Direct determination of interface structure and bonding with the scanning transmission electron microscope
Schriftenreihe:
Philosophical transactions : Series A, Mathematical, physical and engineering sciences ; 1719 : Vol. 354