Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen

Gespeichert in:
1. Verfasser:
Stern, Olaf
Format:
Abschlussarbeit Buch Dissertation
Sprache:
Deutsch
Veröffentlicht:
Düsseldorf VDI-Verl. 1996
Ausgabe:
Als Ms. gedr.
Bestände:
  • Magazin: pfl/7278
Umfang:
XIV, 160 S. : Ill., graph. Darst.
Anmerkungen:
Siegen, Univ., Diss.
Schriftenreihe:
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 9 ; 240
ISBN:
3183240092
Schlagworte:
LSI
Testbarkeit
Fehlermodell
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