Untersuchungen zur Genauigkeitssteigerung der kalibrationsfreien Temperaturmessung mit Halbleiter-pn-Übergängen

Gespeichert in:
1. Verfasser:
Holmer, Rainer
Format:
Buch
Sprache:
Deutsch
Veröffentlicht:
Düsseldorf VDI-Verl. 1996
Ausgabe:
Als Ms. gedr.
Bestände:
  • Magazin: pfl/7063
Umfang:
XII, 138 S. : Ill., graph. Darst.
Schriftenreihe:
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 8, Meß-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; 587
ISBN:
3183587084
Schlagworte:
Temperaturmessung
Halbleiterbauelement
pn-Übergang
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