Tiefenprofilanalytik an Dünnschichtsolarzellen auf der Basis von amorphem Silizium mittels der Massenspektrometrie zerstäubter Neutralteilchen und der Sekundärionen-Massenspektrometrie

Gespeichert in:
1. Verfasser:
Gastel, Michael
Format:
Abschlussarbeit Buch Dissertation
Sprache:
Deutsch
Veröffentlicht:
Jülich Forschungszentrum, Zentralbibl. 1996
Bestände:
  • Magazin: d/e2314
Umfang:
II, 99 S. : graph. Darst.
Anmerkungen:
Düsseldorf, Univ., Diss., 1996
Schriftenreihe:
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3248
Notationen:
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