Kostengünstige Testmethoden für Semi-Custom-ASICs

Gespeichert in:
Weitere Titel:
Semi Custom ASICs
1. Verfasser:
Büchner, Thomas
Format:
Abschlussarbeit Buch Dissertation
Sprache:
Deutsch
Veröffentlicht:
Düsseldorf VDI-Verl. 1996
Ausgabe:
Als Ms. gedr.
Bestände:
  • Magazin: pfl/6489
Umfang:
XI, 117 S. : Ill., graph. Darst.
Anmerkungen:
Stuttgart, Univ., Diss.
Schriftenreihe:
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 9, Elektronik ; 233
ISBN:
3183233096
Schlagworte:
Kundenspezifische Schaltung
Boundary scan
Testmustergenerierung
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