Charakterisierung von Mikropinchen mittels SXR- und XUV-Diagnostik am Plasmafokus Speed 2

Gespeichert in:
1. Verfasser:
Roewekamp, Peter
Format:
Abschlussarbeit Buch Dissertation
Sprache:
Deutsch
Veröffentlicht:
1996
Bestände:
  • Außenmagazin: ard/3594
  • Magazin: d/e1874
Umfang:
89 S. : Ill., graph. Darst.
Anmerkungen:
Düsseldorf, Univ., Diss., 1996
Notationen:
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