X-ray spectrometry in electron beam instruments

1. Verfasser:

Williams, David B. (HerausgeberIn)

Format:

Buch

Sprache:

Englisch

Veröffentlicht:

New York [u.a.] Plenum Press 1995

Bestände:

• Zeit­schriften­archiv: anw/2324

Umfang:

XVIII, 372 S. : graph. Darst.

ISBN:

0306448580

Schlagworte:

Röntgenspektroskopie

Elektronenstrahltechnologie

Wissenschaftliches Instrument

Notationen:

ches580

Links:

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